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ADC의 성능을 스펙보다 더 향상시킬 수 있는 몇가지 기술이 있다. ADC의 일반적인 오차원인을 찾고 이러한 오류를 보정하기 위한 기술을 적용한다면 전체 시스템 성능까지 크게 향상시킬 수 있을 것이다. ADC의 비이상성에는 양자화 오차, 옵셋, 이득오차 및 비선형성 등이 있으며, 잡음과 드리프트도 측정오차에 영향을 미치게 된다. 이러한 오차에 대한 정확한 원인과 타입을 이해한다면 ADC의 성능을 스펙 이상으로 끌어올릴 수 있다. 글/ 로버트 슈레이버(Robert Schreiber) TI(Texas Instruments)