마이크로칩, 정밀 오실레이터 특성 분석용 53100A 위상 노이즈 분석기 출시
2020년 05월 05일
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마이크로칩테크놀로지(북아시아 총괄 및 한국대표: 한병돈)는 차세대 위상 노이즈 계측기인 53100A 위상 노이즈 분석기(53100A Phase Noise Analyzer)를 새롭게 출시했다. 연구 및 제조 엔지니어들은 이 제품을 통해, 원자시계 및 기타 고성능 주파수 레퍼런스 모듈과 하위 시스템 등에 의해 생성되는 신호를 비롯한 여러 주파수 신호를 정밀하게 측정할 수 있다.

 

53100A 위상 노이즈 분석기는 5G 네트워크, 데이터 센터, 상용 및 군용 항공기 시스템, 우주선, 통신 위성과 계측 애플리케이션 등에서 발생하는 주파수 신호의 정밀한 측정을 필요로 하는 엔지니어와 과학자들을 위한 제품이다. 이 계측기는 최대 200 MHz의 무선 주파수(RF) 신호를 측정할 수 있으며, 주파수 신호를 신속하게 획득하고 위상 노이즈, 지터(jitter), 앨런편차(ADEV), 그리고 시간편차(TDEV)의 특성을 빠르고 정확하게 분석한다. 또한 주파수 레퍼런스의 모든 속성을 단일 계측기를 통해 몇 분 이내로 완벽하게 특성화할 수 있다.

 

53100A 위상 노이즈 분석기는 단일 레퍼런스를 이용해 최대 3개의 개별 디바이스를 동시에 계측할 수 있어 다양한 컨피규레이션을 지원하며, 안정성 측정을 위해 더욱 높은 용량을 제공한다. 이 위상 노이즈 계측기는 344 x 215 x 91mm (13.5 x 8.5 x 3.6 인치)의 작은 크기로 ATE(Automated Test Equipment) 시스템 제조에 통합할 수 있으며, 실험실 수준의 계측용도로도 충분히 강력한 성능을 제공한다. 계측기의 인터페이스는 마이크로칩의 51xxA 테스트 세트 커맨드 및 데이터 스트림과의 역호환성을 제공하므로 기존 ATE 인프라를 재설계하지 않아도 된다.

 

53100A 위상 노이즈 분석기는 기존에 테스트 중인 디바이스와는 다른 공칭 주파수에서 입력 레퍼런스 디바이스를 전면 패널과 연결할 수 있는 유연성을 제공하며, 단일 레퍼런스로도 다양한 오실레이터 제품의 특성을 분석할 수 있다. 마이크로칩의 8040-LN과 같은 루비듐 주파수 표준이나 1000C OCXO(Ovenized Crystal Oscillator)와 같은 쿼츠(quartz) 오실레이터는 타 제조사의 정밀 오실레이터와 함께 레퍼런스로 사용 가능하다.

그래픽 / 영상
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