텍트로닉스, 28.6Gbp/s BERTScope 출시
2012년 09월 19일
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신제품 BERTScope는 업계 최고 수준인 300pSec 미만의 고유 지터 노이즈 플로어로 계속 증가되는 텍트로닉스의 광학 통신 테스트 제품 군에 극히 정밀한 BER 테스트 및 근본 원인 PHY 계층 분석 기능을 제공한다.

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당자는 "새로운 텍트로닉스 BSA286C는 100G 테스트 조건을 만족하고자 노력하고 있는 설계 실험실에 턴키 방식의 고속 통신 테스트 프레임워크를 제공한다"라면서, "더구나 BSA286C는 심층적인 수준의 디버깅 가시성을 제공함으로써 설계자들이 특정 디바이스가 초기 테스트에 실패한 원인을 파악하도록 지원하는 유일한 솔루션이다"라고 밝혔다.

디버깅 애플리케이션의 경우, 엔지니어들은 BSA286C를 사용하여 지터를 무작위 성분과 확정적 성분으로 정확하게 분해할 수 있는 추가 기능으로 발생 가능성이 낮은 이벤트를 포함하여 다양한 신호에 대해 확실한 지터 측정을 수행할 수 있다. 속도가 증가함에 따라 crosstalk및 지터와 관련된 신호 노이즈의 중대한 원인이 되었다. 텍트로닉스 BERTScope와 고성능 오실로스코프에는 모두 BUJ(Bounded Uncorrelated Jitter)를 분리하여 crosstalk와 관련된 잠재적인 설계 문제를 신속하게 파악할 수 있는 지터 분해 모델이 적용되어 있다.

100G 테스트의 경우, 28.6Gb/s BER(비트 에러율) 스트레스 리시버 테스트가 표준 적합성 및 성능을 보장하는 데 중요한 조건으로 부각되었다. 이 데이터 전송률은 100GBASE-LR 및 ER-4의 25.78125Gb/s 데이터 전송률과 함께 필요한 마진 검증 및 FEC(순방향 오류 정정)에 적합한 여유를 제공한다.

BERTScope에서 제공하는 고속 패턴 생성과 오류 검출 기능의 조합을 활용하면 디버그 근본 원인 분석과 관련된 복잡한 측정 시나리오에서 빠르게 해답을 얻을 수 있다. 텍트로닉스는 모든 범위의 100G 설계 과제에 대응하여 PHY TX, RX, 광학 변조에 대해 계측기 기능 및 측정 전문 지식을 제공한다. TX 아이 다이어그램 분석용 텍트로닉스 DSA8300 디지털 샘플링 오실로스코프에서 시작하여 복잡한 변조 테스트용 OM4000 가간섭 광파 신호 분석기와 함께 BSA286C BERTScope 가 추가됨에 따라 100G 표준 검증 및 디버그에 필요한 포괄적인 PHY 테스트 셋트가 제공된다.

그래픽 / 영상
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