텍트로닉스, 협업강화 및 생산성 증대, TekScope Anywhere™ 출시
2015년 03월 06일
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오실로스코프의 시각화, 분석 및 보고 기능을 PC, 태블릿으로 확장하는 새로운 소프트웨어 솔루션

세계 최고의 오실로스코프 제조업체인 텍트로닉스(Tektronix, Inc.)는 오실로스코프의 시각화, 분석 및 보고 기능을 Microsoft Windows 기반 PC, 태블릿 및 서버로 확장하는 새로운 소프트웨어 TekScope Anywhere™를 발표했다. 오실로스코프에서 분석 도구를 분리함으로써 이제 엔지니어들은 실험실 밖에서도 대부분의 작업을 수행하고 전세계 동료들과 더 효과적으로 협업을 진행할 수 있다.

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개발 팀이 지리적으로 여러 지역에 분산되는 경우가 증가하면서 클라우드를 활용하여 작업 그룹 분석 속도를 높여주는 보다 효율적인 도구에 대한 수요가 증가하고 있다. TekScope Anywhere™를 통해 사용자는 실험실의 기기에 구속되지 않고 수집, 분석 및 협업을 할 수 있다. 또한 실리콘이 시뮬레이션 단계에 도달하기 전에 더 많은 분석이 수행된다. 이러한 시나리오의 경우 TekScope Anywhere는 오실로스코프에서 실리콘 PHY 특성화 후가공(post-fabrication) 중에 사용하는 것과 동일한 알고리즘을 사용하여 시뮬레이션 데이터에 대한 측정을 가능하게 해준다.

텍트로닉스 고성능 오실로스코프 담당 총책임자인 브라이언 라이히(Brian Reich)는 "TekScope Anywhere™는 오실로스코프 고객이 더 유연한 환경에서 협업 및 작업할 수 있게 해준다"면서, "예를 들어 고객은 이제 스코프 하드웨어에 관계없이 여러 파형 형식과 다양한 스코프 및 시뮬레이션 환경에 걸쳐 측정 상관 관계 문제를 해결할 수 있다"고 말했다.

수집, 분석, 협업
TekScope Anywhere™ 사용은 오실로스코프를 사용하여 파형 데이터와 측정 결과를 수집하는 것부터 시작된다. 여기서 획득에 사용된 하드웨어와 관계없이 일련의 공통 분석 도구를 사용할 수 있다. .h5, .wfm, .csv, .bin, .trc 및 .tr0을 포함하여 오실로스코프 또는 시뮬레이션 환경의 광범위한 파형 형식이 지원된다.

TekScope Anywhere™는 분석 속도를 높이기 위해 컴포지트 저장/불러오기 기능으로 사용자가 언제나 원하는 지점부터 시작할 수 있게 해준다. 포함된 측정 라이브러리는 파라미터, 지터 및 아이 다이어그램을 포함하여 70가지 이상의 측정기능을 갖추고 있다. 강력한 시각화에는 파형 및 플롯 표시, 확대/축소, 커서 및 주석을 위한 상호 작용과 연산자(-, + 등), FFT 및 임의 필터를 포함한 기본적인 연산에 대한 지원이 포함된다. 고급 지터 측정은 옵션 DJA를 장착할 경우 사용할 수 있다.

구성 및 세부 정보를 포함한 세션 파일은 모든 텍트로닉스 MSO/DPO5000, DPO7000 또는 MSO/DPO70000 시리즈 오실로스코프에 저장 가능하며 TekScope Anywhere™ 내에서 사용할 수 있으므로 하드웨어 설정을 재구성할 필요가 없다. 협업 기능 외에 측정 결과를 여러 파형으로 동시에 비교할 수 있으며 그 결과를 손쉽게 보고서로 생성할 수 있다.

가격 및 공급 상황
현재 시장 평가를 위해 제한적으로 출시된 TekScope Anywhere™는 2015년 3월부터 전세계에서 주문이 가능하다. 가격은 최저 $895 (미국 권장소비자가)이며, 심층적인 지터 분석을 위한 옵션 DJA의 약 $5,000(미국 권장소비자가) 대 가격이다.

텍트로닉스의 다른 소식 텍트로닉스 대역폭 관련 블로그를 비롯하여 트위터 및 페이스북에서 텍트로닉스의 최신 소식을 볼 수 있다. 또한 자사에서 운영하는 블로그 티도리에서 오실로스코프를 이용한 측정 솔루션등의 유용한 자료들을 확인할 수 있다. www.tscope.co.kr

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