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EPC(Efficient Power Conversion)는 실리콘 전력 디바이스에 비해 탁월한 견고성을 보여주는 데모와 방대한 정보가 추가된 14단계 신뢰성 보고서(Phase-14 Reliability Report)를 발표했다.

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EPC는 획기적인 현장 신뢰성 기록을 달성하는데 사용된 전략을 문서화한 14단계 신뢰성 보고서(Phase-14 Reliability Report)를 발표했다. 다양한 애플리케이션에 GaN 디바이스가 빠르게 채택됨에 따라 신뢰성 통계의 지속적인 축적과 GaN 디바이스에 대한 근본적인 결함 물리학에 대한 연구가 요구되고 있다. 14단계 신뢰성 보고서는 다양한 조건에서 디바이스의 결함을 강제하는 테스트를 기반으로 수명을 측정 및 예측하는데 사용된 전략을 제시하고 있다. 이러한 정보는 자율주행 자동차와 로보틱스, 보안, 드론을 위한 라이다 및  높은 전력 밀도의 컴퓨팅과 위성 등과 같은 애플리케이션에서 보다 강력한 고성능의 제품을 구현하는데 사용할 수 있다.

이 보고서는 eGaN 디바이스를 결함 지점까지 테스트한 결과를 보여주며, 이는 디바이스 고유의 결함 메커니즘을 식별할 수 있는 정보를 제공한다. 이러한 본질적인 결함 메커니즘을 식별함으로써 시간과 온도, 전기적 또는 기계적 스트레스에 따른 디바이스 동작에 대한 심층적인 지식을 개발하고, 보다 광범위한 동작 조건에 걸쳐 제품의 안전한 동작 수명을 정확하게 예측할 수 있는 물리학 기반 모델을 생성하는데 사용할 수 있다.

이 보고서는 8개의 섹션으로 구성되어 있으며, 각기 다른 결함 메커니즘을 다루고 있다:

섹션 1: eGaN 디바이스의 게이트 전극에 영향을 미치는 본질적인 결함 메커니즘
섹션 2: 동적 RDS(on)의 고유 메커니즘
섹션 3: 물리학 기반 모델을 일반적인 실제 사용사례에 적용
섹션 4: 안전 동작 영역(SOA: Safe Operating Area)
섹션 5: 단락 조건에서 디바이스에 미치는 파괴 테스트
섹션 6: 장기간의 라이다 펄스 스트레스 조건에서 신뢰성을 평가하기 위한 맞춤형 테스트
섹션 7: 기계적 힘에 의한 스트레스 테스트
섹션 8: 열-기계적 스트레스

EPC의 공동창업자이자 CEO인 알렉스 리도우(Alex Lidow) 박사는 “EPC의 14단계 신뢰성 보고서는 광범위한 스트레스 조건 하에서 GaN 디바이스의 동작을 심층적으로 이해할 수 있도록 수백만 개의 디바이스에 대한 축적된 경험과 5세대 기술을 기반으로 하고 있다.”고 밝혔다.