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올해로 창립 40주년을 맞이한 내쇼날인스트루먼트(National Instruments)는 그래픽 기반 시스템 디자인 컨퍼런스인 NIDays 2016을 개최하고, 미래의 엔지니어링 문제를 해결할 수 있는 새로운 비전과 전략을 소개했다. NI의 아시아 태평양 지역 부사장인 찬드란 네어(Chandran Nair)는 “지난 40년 동안 NI는 테스트 및 측정 분야에서 고객의 혁신과 생산성, 새로운 발견이 가능하도록 혁신적인 기술적 성과를 달성해 왔다.”고 말하고, “향후 100년에 걸친 NI의 장기적 플랜 또한 새로운 산업혁명과 미래의 엔지니어링을 선도할 수 있는 비전을 제시해 나갈 것”이라고 밝혔다.

또한 찬드란 네어는 “소프트웨어 기반의 버추얼 인스트루먼트를 실현하기 위한 NI의 소프트웨어 및 하드웨어 플랫폼 접근 방식을 통해 보다 쉽고, 빠르고 높은 생산성을 실현할 수 있는 새로운 툴들을 제공해 나갈 것”이라고 말하고, “특히 그래픽 기반 시스템 설계에 대한 요구가 높아지고 있는 자동차용 전장장치, 반도체, 국방산업은 물론, 임베디드 영역에서도 NI의 솔루션을 확대시켜 나갈 것”이라고 언급했다.

한국NI의 신임 지사장으로 부임한 이동규 지사장은 “국내 기술산업이 저성장 모드에 진입해 있는 것은 사실이지만, 이러한 국면을 전환하고, 극복하기 위한 업계의 다양한 노력들이 이어지고 있다.”고 언급하고, “차세대 신성장 동력으로 부상하고 있는 IoT, 5G 이동통신, 무인차량, 무인 항공기 등이 안착하기 위해서는 혁신적인 엔지니어링 솔루션이 요구되며, NI는 이를 실현할 수 있는 다양한 플랫폼 기반 전략을 통해 산업의 발전에 기여해 나갈 것”이라고 밝혔다.

한편 NI는 최근 발표한 LabVIEW 2016 채널 와이어와 Massive MIMO 애플리케이션 프레임워크에 이어 새로운 제품들도 추가로 발표했다. 1GS/s 및 14bit로 100Vpp의 최대 입력 범위를 지원하는 새로운 오실로스코프인 PXIe-5164는 모듈형 PXI 아키텍처를 기반으로 구축되었으며, 프로그래머블 디바이스인 FPGA를 내장해 고전압 측정과 정밀한 진폭 측정이 요구되는 우주항공, 국방, 반도체, 연구/물리학 애플리케이션을 지원할 수 있도록 했다.

또한 반도체 테스트 시스템 개발에 필요한 하드웨어 및 소프트웨어 기능을 제공하는 NI PXIe-6570 디지털 패턴 계측기와 디지털 패턴 편집기를 출시했다. 이 제품은 RFIC, 전원 관리 IC, MEMS 디바이스, 혼합 신호 IC 제조사들이 기존 반도체 자동화 테스트 장비(ATE)의 폐쇄형 아키텍처에서 벗어나 개방형 아키텍처로 이행할 수 있도록 지원한다. NI는 반도체 업계의 기존 디지털 테스트 패러다임을 STS(Semiconductor Test System)에 사용되는 개방형 PXI 플랫폼으로 적용하고, 이를 사용 편의성이 높고 강력한 기능을 갖춘 패턴 편집기와 디버거로 발전시켜 고객들이 최첨단 PXI 계측기를 사용하여 테스트 비용을 줄이고 RF 및 아날로그 IC 처리량을 개선할 수 있게 했다.