반도체 전문 온라인 매거진 - 올포칩

피커링 인터페이스가 WAT(Wafer Acceptance Test)와 같은 반도체 파라메트릭 테스트 어플리케이션에서 매우 낮은 전류 구동 가드 측정을 목표로 하는 낮은 누설 스위칭 솔루션 제품군을 발표했다. 제품에는 PXI, PXIe 및 LXI 버전이 포함되며 스위치 가드 설계 원리를 기반으로 하며 전체 설계가 최대 10¹³Ω의 절연 저항을 보장한다. 

제품군은 다양한 스위칭 구조를 제공하는 세 가지 범위로 구성된다. PXI 모듈(모델 40-121)은 SPST(13 또는 26개) 또는 2:1(8 또는 16개) 멀티플렉서 구성을 제공한다. 모델 40-590 및 모델 42-590의 PXI/PXIe 모듈은 매트릭스(8x4 또는 16x4) 기능을 제공하며, 모델 65-290 LXI는 피커링의 기존 2U LXI 모듈형 섀시(모델 65-200)를 기반으로 하며 최대 6개의 8x16 또는 16x16 매트릭스 플러그인을 수용한다. 개별 플러그인은 섀시 전면에서 설치되므로 확장 및 유지보수에 유리하다.

향후 테스트 시스템 확장성을 위해, PXI/PXIe 모델 40/42-590 및 LXI 모델 65-290 제품에는 짧은 표준 케이블을 통해 섀시에서 인접 모듈을 상호 연결하여 매트릭스 크기를 확장할 수 있는 루프 스루 기능이 포함되어 있다. 따라서 전자는 X축으로 확장할 수 있고 후자는 X축과 Y축 모두 확장할 수 있어 섀시당 최대 16x96 크기의 유연한 구성의 매트릭스를 추가 섀시로 간단하게 확장할 수 있다. 각 PXI 모듈은 섀시 슬롯 하나만 차지한다. 이 설치 공간은 고밀도 동축 커넥터를 사용하여 낮은 누설 중심 가드 측정을 지원한다. PXI 모델 40-121 모듈은 (SPST 구성의) 52개 핀이 모두 단 2개의 커넥터에 분산된 복수 회로를 가진 MS-M 커넥터를 사용하여 연결 및 분리 작업 속도를 크게 높인다. 모델 40/42-590 및 65-290 제품군은 절연 커버가 있는 MMCX 초소형 동축 커넥터를 사용하여 배선 복잡도를 줄이고 매트릭스 크기를 간단하게 루프-스루로 확장할 수 있는 컴팩트한 단일 포트를 제공한다.

또한 LXI 모델 65-200 플랫폼을 사용하면 사용자가 사전 정의된 테스트 시퀀스를 로드하고 소프트웨어 또는 하드웨어 트리거를 통해 순차적으로 스위칭할 수 있어 표준 소프트웨어 드라이버 제어 트랜잭션에 비해 테스트 시간을 단축할 수 있다. 시퀀스는 LXI 컨트롤러 자체에 저장되어 호스트 CPU와 이더넷 트래픽의 부담을 줄이고 전체 시스템 지연 시간을 최소화한다. 이러한 기능은 시험대상체 당 수천 개의 테스트가 필요할 수 있는 반도체 테스트에서 사용을 최적화한다.

피커링 스위칭 제품 매니저 스티브 에드워즈는 다음과 같이 말했다: "모든 제품은 당사의 릴레이 사업부인 피커링 일렉트로닉스에서 제조한 맞춤형 고품질 루테늄 스퍼터링 리드 릴레이를 사용하고 있다. 이 스위치는 새로운 스위치 가드 모듈에 필요한 절연을 유지하고 긴 작동 수명을 보장하는 내부 구조를 갖추고 있다. 또한 피커링은 사용자의 테스트 시스템 제품을 통합하는 데 도움이 되는 표준 및 맞춤형 케이블 솔루션도 제공한다."