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NI는 오늘 하드웨어 가속화를 통해 5G mmWave 빔포밍 AiP 디바이스의 철저한 특성화 및 검증을 지원하기 위한 5G mmWave OTA 검증 테스트 참조 아키텍처의 출시를 발표했다.

NI의 mmWave OTA 검증 테스트 참조 아키텍처는 24~44 GHz 대역의 5G mmWave에서 OTA 공간 스윕에 대해 빠른 속도를 달성하여, 기존 소프트웨어로 관리하는 포인트별 테스트 시스템과 비교했을 때 사용자가 AiP 디바이스의 OTA RF 검증 테스트 시간을 큰 폭으로 단축하도록 지원한다. 이 새로운 참조 아키텍처는 최신 5G AiP 디바이스를 다루는 특성화 및 검증 담당 엔지니어에게 한층 폭넓고 복잡한 5G NR 신호 및 디바이스의 빔포밍 성능을 다루는 동시에 개발 일정을 단축할 수 있다는 장점을 제공한다. NI의 신속한 OTA 테스트 접근법은 엔지니어가 더욱 밀도 높은 공간 그리드를 사용하고 더 섬세한 3D 공간 해상도를 얻는 한편 테스트 시간을 짧게 유지하도록 도와준다. 그리고 NI의 mmWave OTA 검증 테스트 소프트웨어를 활용하면 검증 엔지니어가 빠르게 포괄적인 공간 스윕을 설정해 디바이스의 안테나 패턴을 특성화하고 자세한 파라미터형 결과를 생성, 시각화, 저장 또는 배포할 수 있다.

Anokiwave사의 알라스테어 업튼(Alastair Upton) 최고 전략 담당자는 “빠르게 발전하는 5G mmWave 반도체 업계에서 테스트 시스템은 새로운 클래스의 5G 빔포밍 디바이스에 대비해야 한다. 디바이스 빔포밍 성능을 측정하고 보장하여 차세대 mmWave 반도체가 글로벌 차원의 잠재력을 발휘하도록 하려면, 신속하고 정확하며 비용이 적게 드는 툴이 필요하다” 고 말했다.

NI의 mmWave OTA 검증 테스트 참조 아키텍처 포함 내역:

• 광대역 RF 신호 생성 및 측정을 위한 NI의 mmWave VST

• 반복 가능하고 정확한 모션 컨트롤을 위한 PXI 계측기

• 조용한 환경에서의 원거리(Far-Field) 방사성 테스트용 절연 RF 챔버

• 대화식 사용 및 자동화용 mmWave OTA 검증 테스트 소프트웨어

NI의 mmWave OTA 검증 테스트 참조 아키텍처 출시는 5G mmWave 디바이스의 테스트 커버리지를 확장하는 동시에 고객이 테스트 비용을 절감하고 제품 출시 시간을 단축할 수 있도록 돕고자 NI가 꾸준히 기울여온 노력의 일환이다. 이 솔루션은 NI의 Sub-6 GHz부터 mmWave에 이르기까지 최신 5G RFIC 디바이스 특성화 및 검증용 모듈형 계측기 포트폴리오와 측정 소프트웨어를 보완한다.